熱釋光探測(cè)器(TLD)是利用熱致發(fā)光原理測(cè)量核輻射的裝置。熱釋光發(fā)光體作為劑量元件，把接收到的射線的能量?jī)?chǔ)存積累起來(lái)，由熱釋光加熱發(fā)光裝置加熱后，劑量元件發(fā)出光，通過(guò)光電倍增管轉(zhuǎn)換成電信號(hào)并輸出顯示。是20世紀(jì)60年代發(fā)展起來(lái)的一種輻射劑量測(cè)量方法。熱釋光探測(cè)器廣泛應(yīng)用于輻射防護(hù)、放射醫(yī)學(xué)、放射生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)、考古學(xué)和環(huán)境保護(hù)等領(lǐng)域，尤其在個(gè)人劑量監(jiān)測(cè)中被廣泛使用。
 

　　熱釋光探測(cè)器是利用熱致發(fā)光原理測(cè)量核輻射的裝置。具有晶體結(jié)構(gòu)的某些固體，常含有多種晶格缺陷(如一些原子或離子缺位或加入某些外來(lái)雜質(zhì)等)，它們能吸引異性電荷形成“陷阱”。當(dāng)射線照射時(shí)，在固體中產(chǎn)生的電子和正離子被其俘獲。檢測(cè)時(shí)加熱固體，則釋放的電子和正離子與固體其他部分的異性電荷復(fù)合并發(fā)光。其發(fā)光光線穿過(guò)并導(dǎo)光電倍增管產(chǎn)生光電流，再經(jīng)直流放大器放大，通過(guò)記錄器記錄。
 

　　熱釋光元件可以重復(fù)使用。但是，經(jīng)核輻射照射后的熱釋光體只允許一次加熱測(cè)量，因?yàn)榧訜岷?，?chǔ)存的信息就被破壞了，不能復(fù)查測(cè)量結(jié)果。在劑量監(jiān)測(cè)中，萬(wàn)一某次測(cè)量失誤，測(cè)量結(jié)果就被丟失。要再次使用時(shí)，熱釋光體要用高溫退火。對(duì)不同材料，退火溫度不*相同。如對(duì)LiF，要在400℃下保持1h，在該條件下，可使400℃下的所有發(fā)光峰陷阱中的電子全部釋放出來(lái)，而陷阱能級(jí)并不破壞。